雙金屬片式溫度開關

• 結構：由兩種熱膨脹系數(shù)不同的金屬層壓成片狀。
• 工作流程：
  • 溫度升高→雙金屬片因膨脹差異彎曲→推動觸點分離（切斷電路）。
  • 溫度降低→雙金屬片恢復平直→觸點閉合（導通電路）。
• 特點：
  • 優(yōu)點：結構簡單、成本低、無需外部電源。
  • 缺點：精度較低（±5℃），響應速度慢（秒級），機械壽命有限（約10萬次）。
• 應用：電熱水壺、電熨斗、電機過熱保護。

液體膨脹式溫度開關

• 結構：感溫包內充注液體（如硅油），通過毛細管連接波紋管或膜片。
• 工作流程：
  • 溫度升高→液體膨脹→壓力推動波紋管形變→觸發(fā)微動開關。
  • 溫度降低→液體收縮→波紋管復位→開關恢復初始狀態(tài)。
• 特點：
  • 優(yōu)點：驅動力大、精度較高（±2℃）、適合高壓/高功率場景。
  • 缺點：體積較大，存在液體泄漏風險。
• 應用：工業(yè)加熱設備、壓縮機過熱保護。

1. 標準儀器選擇：選用高精度的標準溫度計作為參考標準，其精度應比被校準的壓力式溫度計至少高一個等級，例如標準溫度計的精度為 ±0.1℃，而待校準壓力式溫度計的精度為 ±0.5℃。同時，標準溫度計的測量范圍應能覆蓋被校準壓力式溫度計的測量范圍。
2. 輔助設備準備：準備恒溫槽，其溫度均勻性和穩(wěn)定性要滿足校準要求，一般溫度均勻性應在 ±0.1℃以內，溫度波動度應在 ±0.05℃/h 以內。還需準備用于固定溫度計的夾具等輔助工具。
3. 環(huán)境條件檢查：選擇溫度恒定、無振動、無強電磁場干擾的環(huán)境進行校準。校準環(huán)境的溫度應保持在（20±5）℃，相對濕度應在 45%～75% 之間。

溫度數(shù)據(jù)采集儀校準前準備

1. 標準器及配套設備

1.標準信號源：選用多通道高精度信號源（如熱電偶/熱電阻模擬器），不確定度優(yōu)于被校儀器的1/3，支持K型、PT100等傳感器類型；模擬輸入需標準電壓/電流源，誤差≤±0.02% FS。

2.恒溫設備：干井爐、恒溫槽或黑體爐需覆蓋被校量程，溫度穩(wěn)定性±0.05℃（高精度）或±0.1℃（常規(guī)），均勻度±0.1℃。

3.參考儀器：6?位以上數(shù)字萬用表（誤差≤±0.01%）驗證信號源，配備數(shù)據(jù)記錄軟件同步采集多通道數(shù)據(jù)。

2. 環(huán)境條件

1.實驗室溫度（20±3）℃，濕度30%-70%，

2.無強電磁干擾（需屏蔽或接地）、振動，工作臺防震處理。

3. 被校儀器檢查

1.外觀與接口：外殼、屏幕、按鍵完好，標識清晰；輸入/輸出端子無氧化、松動。

2.功能預檢：開機自檢無報錯，通道切換響應穩(wěn)定；通過上位機軟件驗證數(shù)據(jù)傳輸（如Modbus、USB）及存儲功能。

3.參數(shù)配置：核對采樣率、量程、濾波設置，更新固件。

環(huán)境試驗設備校準前準備

1. 標準器及配套設備

1.主標準器：選用一等標準鉑電阻溫度計及標準濕度傳感器，其不確定度需優(yōu)于被校設備性能指標的1/3。

2.多點測量系統(tǒng)：配置多通道高精度數(shù)據(jù)采集儀及至少15支均勻分布的溫濕度探頭，用于檢測試驗箱內溫濕度均勻性、波動度（按JJF 1101布點要求）。

3.輔助設備：風速儀、輻射屏蔽罩、絕緣支架。

2. 環(huán)境條件

1.實驗室環(huán)境溫濕度穩(wěn)定在（23±3）℃、（50±10）%RH，遠離振動源、熱源及強電磁干擾。

2.設備放置于水平地面，四周預留≥1m散熱空間，電源單獨接地（接地電阻≤4Ω），電壓波動≤±5%。

3.校準前試驗設備需空載運行，預熱至常用溫濕度點并穩(wěn)定2小時以上。

3. 被校儀器檢查

1.外觀與結構：箱體密封條無老化破損，傳感器安裝位置符合說明書要求，加濕水箱無結垢，冷凝排水管路暢通。

2.性能預檢：測試高溫段（85℃）波動度≤±0.5℃/30min，低溫段（-40℃）均勻性≤±2.0℃，濕度偏差≤±3.0%RH（參考出廠指標）。

3.安全功能：驗證超溫/超濕報警、過流保護、應急排氣閥動作正常，門鎖聯(lián)鎖功能可靠。

4.軟件設置：禁用自適應控制算法，鎖定程序運行參數(shù)，清理歷史數(shù)據(jù)確保校準過程無干擾。 專業(yè)認證，英菲值得托付！

工業(yè)鉑熱電阻的校準前準備

1. 標準器選擇：通常選用高精度的標準鉑電阻溫度計作為標準器，其不確定度應滿足校準要求，一般優(yōu)于被校準工業(yè)鉑熱電阻不確定度的 1/3。例如，被校準鉑熱電阻的不確定度為 ±0.1℃，則標準鉑電阻溫度計的不確定度應優(yōu)于 ±0.03℃。
2. 配套設備：準備恒溫槽，要求其溫度均勻性和穩(wěn)定性良好，溫度波動度在 ±0.05℃以內，溫度均勻性在 ±0.1℃以內。還需配備直流電位差計或數(shù)字多用表等測量儀器，其分辨率和準確度要滿足測量要求，如分辨率應達到 0.1μV。
3. 環(huán)境條件：校準環(huán)境溫度應控制在（20±5）℃，相對濕度在 45% - 75% 之間，環(huán)境應無強電磁場干擾、無振動，避免陽光直射和空氣對流。
4. 被校鉑熱電阻檢查：檢查工業(yè)鉑熱電阻的外觀，保護管應無破損、變形，接線盒應完好，引線連接牢固。同時，測量其絕緣電阻，絕緣電阻應不小于 100MΩ（100V 直流電壓下），以確保其電氣性能良好。

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壓力式溫度計校準步驟

1. 外觀檢查：查看壓力式溫度計的表盤是否清晰、有無破損，指針是否能靈活轉動，感溫包、毛細管和指示表頭之間的連接是否牢固，有無泄漏等情況。
2. 安裝固定：將壓力式溫度計的感溫包與標準溫度計一起放入恒溫槽中，確保感溫包與標準溫度計的感溫元件處于同一水平位置，且與恒溫槽內的介質充分接觸，并用夾具固定好，防止溫度計晃動。
3. 零點校準：將恒溫槽溫度設定為 0℃，待溫度穩(wěn)定后，觀察壓力式溫度計的指針是否指在 0 刻度位置。若有偏差，可通過調整溫度計的調零旋鈕使其指針指向 0 刻度。
4. 多點校準：在壓力式溫度計的測量范圍內，均勻選取至少 3 個溫度點進行校準，如測量范圍為 0℃～100℃，可選取 25℃、50℃、75℃這三個溫度點。將恒溫槽分別設定到選定的溫度點，每個溫度點穩(wěn)定后，記錄標準溫度計的示值和壓力式溫度計的示值。
5. 偏差計算：計算壓力式溫度計在各校準點的偏差，偏差 = 壓力式溫度計示值 - 標準溫度計示值。根據(jù)偏差情況判斷壓力式溫度計是否符合精度要求。
6. 重復性測試：對每個校準點進行多次測量，一般不少于 3 次，計算每次測量的偏差，觀察偏差的變化情況，評估壓力式溫度計的重復性。重復性應滿足相關標準或技術要求，通常要求重復性誤差不超過其允許誤差