干涉儀是很***的一類實驗技術(shù)的總稱， 其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息， 從而獲得實驗所關(guān)心的物理量。干涉儀并不僅*局限于光干涉儀。 干涉儀在天文學(xué) (Thompson et al, 2001) [1]， 光學(xué)， 工程測量， 海洋學(xué)， 地震學(xué)， 波譜分析， 量子物理實驗， 遙感， 雷達等等精密測量領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用（Hariharan， 2007） [2]。具有固定相位差的兩列準單色波的疊加將導(dǎo)致振幅發(fā)生變化， 從而可以通過測量較容易測量的振幅來獲取波的相位信息。兩列具有同頻率波之振動在一點處可以用如下公式描述那么這兩列波疊加以后的波的振動為光纖干涉儀：利用光纖中的光波干涉現(xiàn)象，廣泛應(yīng)用于傳感器、通信等領(lǐng)域。工業(yè)園區(qū)直銷雙頻激光干涉儀維保

按照干涉光來源區(qū)分干涉儀可以分成波前分解和幅度分解兩類， 其差異在于是否利用波前上不同位置的子波源形成干涉。 例如楊氏雙縫干涉即屬于波前分解干涉儀（鐘錫華， 陳熙謀， 2002） [3]； 而等傾干涉和等厚干涉即為幅度分解干涉儀。干涉儀的應(yīng)用極為***，主要有如下幾方面：長度測量在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動數(shù)可進行長度的精確比較或***測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀**涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。常熟定制雙頻激光干涉儀單價即使不做細分也可達到μm量級，細分后更可達到nm量級。

激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻激光干涉儀從激光器發(fā)出的光束，經(jīng)擴束準直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化由接受器中的光電轉(zhuǎn)換元件和電子線路等轉(zhuǎn)換為電脈沖信號，經(jīng)整形、放大后輸入可逆計數(shù)器計算出總脈沖數(shù)，再由電子計算機按計算式[356-11]式中λ為 激光波長(N 為電脈沖總數(shù))，算出可動反射鏡的位移量L。使用單頻激光干涉儀時，要求周圍大氣處于穩(wěn)定狀態(tài)，各種空氣湍流都會引起直流電平變化而影響測量結(jié)果。

（3）數(shù)控轉(zhuǎn)臺分度精度的檢測及其自動補償 現(xiàn)在，利用ML10激光干涉儀加上RX10轉(zhuǎn)臺基準還能進行回轉(zhuǎn)軸的自動測量。它可對任意角度位置，以任意角度間隔進行全自動測量，其精度達±1。新的國際標準已推薦使用該項新技術(shù)。它比傳統(tǒng)用自準直儀和多面體的方法不僅節(jié)約了大量的測量時間，而且還得到完整的回轉(zhuǎn)軸精度曲線，知曉其精度的每一細節(jié)，并給出按相關(guān)標準處理的統(tǒng)計結(jié)果。（4）雙軸定位精度的檢測及其自動補償 雷尼紹雙激光干涉儀系統(tǒng)可同步測量大型龍門移動式數(shù)控機床，由雙伺服驅(qū)動某一軸向運動的定位精度，而且還能通過RS232接口，自動對兩軸線性誤差分別進行補償。干涉儀的應(yīng)用包括測量微小位移、折射率、波長、材料的光學(xué)特性等。

激光平面干涉儀是基于菲索干涉原理設(shè)計的光學(xué)精密計量儀器，主要用于檢測光學(xué)元件表面面形精度和光學(xué)材料的均勻性 [1] [3-4]。該設(shè)備測量精度可達到1/10-1/100波長量級，采用半導(dǎo)體激光器（635nm）作為光源，具有防塵效果好、結(jié)構(gòu)緊湊等特點，適用于光學(xué)車間、實驗室等場景的批量檢測 [3-4]。上海乾曜光學(xué)科技有限公司與北京海富達科技有限公司均具備相關(guān)生產(chǎn)能力，其中G150M、G200M及60-LP等型號產(chǎn)品采用標準化測量口徑設(shè)計，可滿足不同使用場景需求 [2-4]。截至2025年，相關(guān)企業(yè)產(chǎn)品已服務(wù)國內(nèi)外科研院所及工業(yè)企業(yè) [2]。由于其高精度和高靈敏度，激光干涉儀在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中都具有重要的地位。工業(yè)園區(qū)直銷雙頻激光干涉儀維保

法布里-干涉儀：由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發(fā)明，主要用于高精度的光譜分析。工業(yè)園區(qū)直銷雙頻激光干涉儀維保

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統(tǒng)測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩(wěn)頻氦氖激光為光源，構(gòu)成一個具有干涉作用的測量系統(tǒng)。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱：laser interferometer（激光干涉儀）工業(yè)園區(qū)直銷雙頻激光干涉儀維保

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