雙面鍍膜光刻是針對(duì)硅及其它半導(dǎo)體基片發(fā)展起來(lái)的加工技術(shù)。在基片兩面制作光刻圖樣并且實(shí)現(xiàn)映射對(duì)準(zhǔn)曝光，如果圖樣不是軸向?qū)ΨQ的，往往需要事先設(shè)計(jì)圖樣成鏡像關(guān)系的兩塊掩模板，每塊掩模板用于基片一個(gè)表面的曝光，加工設(shè)備的高精度掩模—基片對(duì)準(zhǔn)技術(shù)是關(guān)鍵。對(duì)于玻璃基片，設(shè)計(jì)對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記并充分利用其透明屬性，可以方便對(duì)準(zhǔn)操作，提高對(duì)準(zhǔn)精度。光學(xué)玻璃基片，表面光潔度不如晶圓，需要事先經(jīng)過(guò)光學(xué)拋光的工藝處理。玻璃基片的透光性是個(gè)可利用的屬性，物鏡可以直接透過(guò)基片看到掩模板的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記。數(shù)字顯微鏡可以不斷變焦觀察掩模板和基片的對(duì)準(zhǔn)情形，不再以關(guān)聯(lián)物鏡參照系的數(shù)字存儲(chǔ)圖像為基準(zhǔn)，則調(diào)焦引起的物鏡抖動(dòng)對(duì)于對(duì)準(zhǔn)精度不再發(fā)生作用。這就是玻璃基片的透明屬性帶來(lái)的好處。濕法腐蝕多為各向同性腐蝕。云南深硅刻蝕材料刻蝕

濕法刻蝕利用化學(xué)溶液溶解晶圓表面的材料，達(dá)到制作器件和電路的要求。濕法刻蝕化學(xué)反應(yīng)的生成物是氣體、液體或可溶于刻蝕劑的固體。包括三個(gè)基本過(guò)程：刻蝕、沖洗和甩干。濕法蝕刻的微觀反應(yīng)過(guò)程，首先溶液里的反應(yīng)物利用濃度差通過(guò)擴(kuò)散作用達(dá)到被蝕刻薄膜表面，然后反應(yīng)物與薄膜表面的分子產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)，并產(chǎn)生各種生成物，生成物通過(guò)擴(kuò)散作用到達(dá)溶液中，隨著溶液被排出。濕法蝕刻的影響因素分別為：反應(yīng)溫度，溶液濃度，蝕刻時(shí)間和溶液的攪拌作用。根據(jù)化學(xué)反應(yīng)原理，溫度越高，反應(yīng)物濃度越大，蝕刻速率越快，蝕刻時(shí)間越短，攪拌作用可以加速反應(yīng)物和生成物的質(zhì)量傳輸，相當(dāng)于加快擴(kuò)散速度，增加反應(yīng)速度。濕法蝕刻的影響因素分別為：反應(yīng)溫度，溶液濃度，蝕刻時(shí)間和溶液的攪拌作用。根據(jù)化學(xué)反應(yīng)原理，溫度越高，反應(yīng)物濃度越大，蝕刻速率越快，蝕刻時(shí)間越短，攪拌作用可以加速反應(yīng)物和生成物的質(zhì)量傳輸，相當(dāng)于加快擴(kuò)散速度，增加反應(yīng)速度。廣州硅片光刻半導(dǎo)體中常見(jiàn)的濕法腐蝕主要可分為化學(xué)腐蝕與電化學(xué)腐蝕。

顯影速度：顯影速率主要取決于使用的光刻膠和反轉(zhuǎn)烘烤步驟的時(shí)間和溫度。反轉(zhuǎn)烘烤的溫度越高、時(shí)間越長(zhǎng)，光引發(fā)劑的熱分解率就越高。在常規(guī)顯影液中，顯影速率>1um/min是比較常見(jiàn)的，但并不是每款膠都是這樣的。底切結(jié)構(gòu)的形成：過(guò)顯的程度(光刻膠開(kāi)始顯影到顯影完成的時(shí)間)對(duì)底切結(jié)構(gòu)的形成有明顯的影響。如圖3所示，在充分顯影后，隨著顯影時(shí)間的延長(zhǎng)，底切的程度會(huì)表現(xiàn)更明顯。對(duì)于實(shí)際應(yīng)用中，建議30%的過(guò)度顯影是個(gè)比較合適的節(jié)點(diǎn)：在高深寬比的應(yīng)用中，必須注意，過(guò)度的底切結(jié)構(gòu)有可能會(huì)導(dǎo)致光刻膠漂膠。足夠的光刻膠厚度：在使用方向性比較好的鍍膜方式中，鍍膜材料的厚度甚至可以大于光刻膠的厚度。因?yàn)?，蒸發(fā)的材料在空隙區(qū)域上緩慢地生長(zhǎng)在一起，從而襯底上生長(zhǎng)的材料形成一個(gè)下面大上面小的梯形截面結(jié)構(gòu)。

光刻機(jī)經(jīng)歷了5代產(chǎn)品發(fā)展，每次改進(jìn)和創(chuàng)新都明顯提升了光刻機(jī)所能實(shí)現(xiàn)的工藝節(jié)點(diǎn)。為接觸式光刻機(jī)。曝光方式為掩模版與半導(dǎo)體基片之間靠控制真空度實(shí)現(xiàn)緊密接觸，使用光源分別為g線和i線。接觸式光刻機(jī)由于掩模與光刻膠直接接觸，所以易受污染，掩模版和基片容易受到損傷，掩模版壽命短。第二代為接近式光刻機(jī)。曝光方式為掩模版與半導(dǎo)體基片之間有微米級(jí)別的間隙，掩模版不容易受到損傷，掩模版壽命長(zhǎng)，但掩模版與基片之間的間隙也導(dǎo)致成像質(zhì)量受到影響，分辨率下降。光刻工藝中常見(jiàn)的對(duì)準(zhǔn)技術(shù)——場(chǎng)像對(duì)準(zhǔn)技術(shù)。

在光學(xué)光刻中，光致抗蝕劑通過(guò)光掩模用紫外光曝光。紫外接觸式曝光機(jī)使用了較短波長(zhǎng)的光（G線435nm，H線405nm，I線365nm）。接觸光刻機(jī)屬于這種光學(xué)光刻。掩膜版的制作則是通過(guò)無(wú)掩膜光刻技術(shù)得到。設(shè)計(jì)圖案由于基本只用一次，一般使用激光直寫技術(shù)或者電子束制作掩膜版，通過(guò)激光束在光刻膠上直接掃描曝光出需要的圖形，在經(jīng)過(guò)后續(xù)工藝，得到需要的掩膜版。激光直寫系統(tǒng)包括光源，激光調(diào)制系統(tǒng)，變焦透鏡，工件臺(tái)控制系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)等。光刻膠的固化過(guò)程需要精確控制溫度和時(shí)間。湖南材料刻蝕版廠家

光刻機(jī)曝光時(shí)的曝光劑量的確定。云南深硅刻蝕材料刻蝕

光源的能量密度對(duì)光刻膠的曝光效果也有著直接的影響。能量密度過(guò)高會(huì)導(dǎo)致光刻膠過(guò)度曝光，產(chǎn)生不必要的副產(chǎn)物，從而影響圖形的清晰度和分辨率。相反，能量密度過(guò)低則會(huì)導(dǎo)致曝光不足，使得光刻圖形無(wú)法完全轉(zhuǎn)移到硅片上。在實(shí)際操作中，光刻機(jī)的能量密度需要根據(jù)不同的光刻膠和工藝要求進(jìn)行精確調(diào)節(jié)。通過(guò)優(yōu)化光源的功率和曝光時(shí)間，可以在保證圖形精度的同時(shí)，降低能耗和生產(chǎn)成本。此外，對(duì)于長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作的光刻機(jī)，還需要確保光源能量密度的穩(wěn)定性，以減少因光源波動(dòng)而導(dǎo)致的光刻誤差。云南深硅刻蝕材料刻蝕